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首頁-產(chǎn)品展示-工業(yè)及半導體檢測解決方案-晶圓缺陷光學檢測

半導體晶圓缺陷檢測/國產(chǎn)晶圓搬運機

SOPTOP AWL 系列半導體晶圓缺陷檢測/國產(chǎn)晶圓搬運機是由高精度光學檢測顯微鏡搭載全自動晶圓搬運系統(tǒng)組成,支持4-12寸的晶圓尺寸,可輕松實現(xiàn)多角度、全視野的宏觀檢查、以及晶圓微觀細節(jié)的高清捕捉,可對半導體過程工藝中的關鍵參數(shù)、缺陷問題進行有效監(jiān)控,是晶圓來料檢測和工藝控制流程缺陷分析的高效利器。

更新日期:2024-01-31

型號:AWL系列

廠商性質:生產(chǎn)廠家

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